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本測試的主要目的是驗證物體、人員或設(shè)備的接近或接觸所導(dǎo)致的靜電放電的電阻。15kv以上的靜電電荷會積聚在物體或人體內(nèi)。經(jīng)驗表明,許多原因不明的故障和損壞可能是由靜電放電引起的。
通過從靜電放電模擬器放電到EUT表面和EUT附近,靜電放電的活動可以通過測試儀器(EUT)獲得。制造商制定的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)和電磁兼容測試計劃中明確規(guī)定了放電的嚴(yán)重程度。EUT檢查其所有運(yùn)行模式中的功能故障或干擾。合格/不合格標(biāo)準(zhǔn)必須在EMC測試計劃中定義,并由產(chǎn)品的制造商確定。
印刷電路板的瞬態(tài)導(dǎo)電電阻
該測試的主要目的是驗證EUT電阻對由感應(yīng)負(fù)載或接觸器產(chǎn)生的具有快速上升時間的瞬時短時沖擊的抵抗力。測試脈沖的快速上升時間和重復(fù)特性導(dǎo)致這些尖峰很容易穿透EUT電路,并可能干擾EUT的操作。瞬變直接作用于總電源和信號線的介電常數(shù)。
在其他多氯聯(lián)苯抗擾度測試中,應(yīng)根據(jù)一般操作配置的合格/不合格標(biāo)準(zhǔn)對EUT進(jìn)行監(jiān)控。
印刷電路板的抗電磁場輻射性能
本測試的主要目的是驗證產(chǎn)品印刷電路板對無線電、無線電收發(fā)器、移動GSM/AMPS電話以及工業(yè)電磁源產(chǎn)生的各種電磁場的抗干擾能力。如果系統(tǒng)沒有屏蔽,電磁場輻射可以耦合在接口電纜上并通過傳導(dǎo)路徑進(jìn)入;或者它可以直接耦合到印刷電路的布線。
當(dāng)射頻電磁場的幅度足夠大時,感應(yīng)電壓和解調(diào)載波會影響器件的正常工作。
印刷電路板抗輻射測試的操作
這種測試通常是最長和最難運(yùn)行的,需要非常昂貴的儀器和相當(dāng)豐富的經(jīng)驗。與其他印刷電路板抗擾度測試相比,制造商定義的成功/失敗標(biāo)準(zhǔn)和書面測試計劃必須發(fā)送到測試室。EUT必須設(shè)置在正常運(yùn)行和最敏感的模式,當(dāng)EUT進(jìn)入輻射場。
當(dāng)EUT暴露在頻率超過80兆赫至1千兆赫所需頻率范圍的分類干擾場中時,必須在測試室內(nèi)建立正常操作。一些印刷電路板抗干擾標(biāo)準(zhǔn)從27兆赫茲開始
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