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TDR測試主要用于電池電路板廠印刷電路板的信號線和器件阻抗測試。
影響TDR測試準(zhǔn)確度的原因很多,包括反射、校準(zhǔn)、讀數(shù)選擇等。反射會(huì)導(dǎo)致短PCB 信號線測試值嚴(yán)重偏差,特別是使用TIP(探針)測試時(shí),因?yàn)門IP和信號線的接觸點(diǎn)會(huì)導(dǎo)致很大的阻抗不連續(xù),從而導(dǎo)致反射,導(dǎo)致附近三四英寸左右的PCB 信號線阻抗曲線波動(dòng)。
如單端信號線,差分信號線,連接器等。這個(gè)測試有個(gè)要求,就是要結(jié)合實(shí)際應(yīng)用條件。例如,如果信號線信號的上升沿約為300ps,TDR的輸出脈沖信號的上升沿應(yīng)設(shè)置在300ps左右,而不是使用30ps左右的上升沿,否則測試結(jié)果可能與實(shí)際應(yīng)用相差很大。
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